اخترع عالم صيني يعمل في الولايات المتحدة، أداة جديدة لقياس سلوك الإلكترونيات في المواد، وهو ما يمكن أن يحسن من أداء الأجهزة في الإلكترونيات والرقائق وتكنولوجيا المعلومات وأجهزة الاستشعار والطاقة.
وجاءت هذه النتيجة في مقال لتانج نشر يوم 13 يوليو الجاري في مجلة “ساينتفيك ريبورتس”.
ومن المعروف أنه في الأجهزة الإلكترونية والرقائق وأجهزة الاستشعار المختلفة، تحمل الإلكترونات المعلومات وتنقلها.
وفي مولدات الكهرباء الحرارية والثلاجات الحرارية، تحمل الإلكترونات الطاقة والإنتروبيا وتنقلهما، غير أن الإلكترونيات تتشتت وتواجه مقاومة من الشوائب والاهتزازات الشبكية وغيرهما أثناء الانتقال، وبعض هذا التشتت والمقاومة يعرض أداء رقائق الكمبيوتر والأجهزة الإلكترونية وأجهزة تكنولوجيا المعلومات للخطر، فيما يعود البعض منه بالفائدة على الطاقة وكفاءة التبريد، لذلك، فإن اكتشاف آليات تشتت الإلكترونيات وانتقالها في المواد يعد أمرا حيويا لتحسين مثل هذه الأجهزة، ولكن لم تكن هناك أداة كشف كهذه حتى ظهر اختراع تانج.
وقال تانج، إنه اكتشف أن القيمة القصوى لمعامل سيبيك تتغير مع آليات التشتت، وصنع هذه الأداة في ظل هذا الاكتشاف.
وقام باختبار هذه الأداة في درجات حرارة منخفضة ومرتفعة وفي ظل حرارة الغرفة، ووجد أنها تحقق أفضل أداء مقارنة بالوسائل التقليدية في جميع درجات الحرارة التي تم اختبارها فيها، كما قام باختبار الأداة في العديد من المواد الجديدة بما في ذلك الجرافين والفوسفور الأسود، ووجد أن لها فائدة في تحسين وظائف المواد.
وعلق تشينج هاو من جامعة أريزونا قائلا “إن فهم آليات تشتت الإلكترونات وانتقالها يمثل جوهر تحسين أداء الأجهزة في مختلف التطبيقات، وإن النتيجة التي توصل إليها شوانج تانج قدمت للصناعة الإلكترونية أداة رئيسية لتطورها المستقبلي”.
